總則
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備（以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備”）基本參數(shù)鑒定方法所用術(shù)語、檢定條件、檢定儀器、檢定周期、檢定負(fù)載及檢定結(jié)果處理等基本要求。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定，其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定亦可參照使用。
GB 2421 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 總則
GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3.1.1 環(huán)境條件 environmental condition
設(shè)備所經(jīng)受的周圍物理、化學(xué)和生物的條件。
表征環(huán)境條件的一個(gè)或幾個(gè)物理、化學(xué)和生物的特性參數(shù)（如溫度、濕度、加速度等）。
能同時(shí)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗(yàn)的設(shè)備。
能依次連續(xù)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗(yàn)的設(shè)備。
當(dāng)檢定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備時(shí)，按試驗(yàn)方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需要預(yù)先確定的環(huán)境參數(shù)值±±。
利用試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)的樣品。
3.1.7 模擬負(fù)載 simulation load
根據(jù)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定制造的負(fù)載（一般應(yīng)考慮質(zhì)量、幾何尺寸、迎風(fēng)面積及熱容量等因素）。
試驗(yàn)箱（室）內(nèi)壁所限定空間的實(shí)際容積，用m³表示。
試驗(yàn)箱（室）中能將規(guī)定的試驗(yàn)條件保持在規(guī)定偏差范圍內(nèi)的那部分空間。
代表試驗(yàn)箱（室）工作空間狀態(tài)的點(diǎn)，一般取工作空間幾何中心點(diǎn)，也可根據(jù)具體情況選擇其他合適的點(diǎn)。
試驗(yàn)箱（室）指示點(diǎn)的自身變化量達(dá)到設(shè)備本身性能指標(biāo)要求時(shí)的狀態(tài)。
試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間內(nèi)任意一點(diǎn)溫度隨時(shí)間的變化量。
計(jì)算方法：試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間指示點(diǎn)溫度在30 min內(nèi)（每2min測(cè)試一次）的實(shí)測(cè)zui高溫度與zui低溫度差值的一半，冠以“±”號(hào)，計(jì)算公式如式（1）
△Tf =±（Tfmax - Tfmin）/2 ………………………………（1）
式中：△Tf------溫度波動(dòng)度，C；
Tfmax------指示點(diǎn)在30 min內(nèi)的實(shí)測(cè)zui高溫度，C；
Tfmin-----指示點(diǎn)在30 min內(nèi)的實(shí)測(cè)zui低溫度，C；
3.2.6 溫度均勻度 temperature uniformity
試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各2測(cè)試點(diǎn)在30 min內(nèi)（每2min測(cè)試一次）每次測(cè)試中實(shí)測(cè)zui高溫度與zui低溫度之差的算術(shù)平均值，計(jì)算公式如式（2）
15
△Tu = 〔∑（Tjmax –Tjmin）〕15……………………………….(2)
J=1
式中：△Tu----溫度均勻度，C；
Tjmax-----各測(cè)試點(diǎn)在第j次測(cè)試中的實(shí)測(cè)zui高溫度，C；
Tjmin-----各測(cè)試點(diǎn)在第j次測(cè)試中的實(shí)測(cè)zui低溫度，C；
試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測(cè)試點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測(cè)zui高溫度（Tjmax）和zui低溫度（Tjmin）與標(biāo)稱溫度（TN）的上下偏差，計(jì)算公式如式（3）、式（4）：
上偏差：△Tmax = Tmax – TN ……………………………（3）
下偏差：△Tmin = Tmin – TN…………………………………（4）
試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測(cè)試點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)的實(shí)測(cè)zui高相對(duì)濕度（Pmax）和zui低相對(duì)濕度（Hmin）與標(biāo)稱相對(duì)濕度（HN）的上下偏差，計(jì)算公式如式（5）、式（6）：
上偏差：△Hmax = Hmax – HN ……………………………（5）
下偏差：△Hmin = Hmin – HN…………………………………（6）
試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間指示點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測(cè)zui高氣壓（Pmax）和zui低氣壓（Pmin）與標(biāo)稱氣壓值（PN）的上下偏差，計(jì)算公式如式（7）、式（8）：
上偏差：△Pmax = Pmax – PN ……………………………（7）
下偏差：△Pmin = Pmin – PN…………………………………（8）
試驗(yàn)箱（室）在規(guī)定的時(shí)間間隔和規(guī)定的溫度范圍內(nèi)，工作空間指示點(diǎn)溫度連續(xù)上升或連續(xù)下降時(shí)單位時(shí)間的變化量，用℃/min表示。
試驗(yàn)箱（室）在規(guī)定的時(shí)間間隔和規(guī)定的壓力范圍內(nèi)，工作空間氣壓（一般指取壓口的氣壓）連續(xù)上升或連續(xù)下降時(shí)單位時(shí)間的變化量，用kPa/min表示
試驗(yàn)箱（室）在規(guī)定的溫度下達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)后，指示點(diǎn)溫度從置入負(fù)載到恢復(fù)到原穩(wěn)定狀態(tài)所需要的時(shí)間。
試驗(yàn)箱（室）工作空間的鹽霧在規(guī)定面積上單位時(shí)間的自由沉降量，用mL/h.80cm²表示。
試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，規(guī)定輻射面上實(shí)測(cè)輻射強(qiáng)度與標(biāo)稱輻射強(qiáng)度的zui大偏差值占標(biāo)稱輻射強(qiáng)度的百分比。
試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測(cè)輻射強(qiáng)度與標(biāo)稱輻射強(qiáng)度差值占標(biāo)稱輻射強(qiáng)度的百分比。
試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測(cè)試點(diǎn)在3Omin內(nèi)zui高實(shí)測(cè)值與zui低實(shí)測(cè)值的算術(shù)平均值。
試驗(yàn)箱（室）工作空間環(huán)境參數(shù)中值與標(biāo)稱值的偏差值。
試驗(yàn)箱（室）在穩(wěn)定狀態(tài)小，工作空間環(huán)境參數(shù)中值與試驗(yàn)箱（室）指示儀表指示值之間的差值。
振動(dòng)臺(tái)能滿足規(guī)定技術(shù)指標(biāo)的工作頻率區(qū)間。
振動(dòng)臺(tái)頻率指示值相對(duì)于實(shí)際值的偏差。
振動(dòng)臺(tái)定頻振動(dòng)時(shí)頻率維持不變的能力，用規(guī)定時(shí)間內(nèi)頻率的變化量表示。
振動(dòng)臺(tái)掃頻振動(dòng)時(shí)，頻率對(duì)時(shí)間的變化率相對(duì)于規(guī)定掃頻速率（每分鐘一個(gè)倍頻程）的偏差，用百分?jǐn)?shù)表示。
振動(dòng)臺(tái)振幅指示值相對(duì)于實(shí)際值的偏差。
振動(dòng)臺(tái)掃頻振動(dòng)時(shí)，振幅在頻率坐標(biāo)上維持不變的能力，用控制點(diǎn)振幅實(shí)際值相對(duì)于設(shè)定值的偏差分貝（DB）數(shù)表示，按式（9）計(jì)算：
式中：N——定振精度，DB
ao——同次掃頻振動(dòng)中控制點(diǎn)振幅的設(shè)定值；
al——同次掃頻振動(dòng)中控制點(diǎn)振幅的實(shí)際值。
振動(dòng)臺(tái)處于空載工作狀態(tài)，設(shè)定振幅為zui小（電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)輸入激振信號(hào)為零）時(shí)，臺(tái)面中心點(diǎn)噪聲加速度的真有效值。
3.3.8 臺(tái)面漏磁 mesa magnetic leakage
電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)系統(tǒng)勵(lì)磁裝置處于工作狀態(tài)，工作臺(tái)面上方規(guī)定高度平面上漏磁場(chǎng)zui大值。
在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)，振動(dòng)臺(tái)以zui大振幅振動(dòng)時(shí)輻射噪聲的zui大聲級(jí)。
3.3.10 安置計(jì)算半徑 mounting calculation radius
安裝在離心式恒加速度試驗(yàn)機(jī)上的試驗(yàn)樣品，其恒加速度值等于規(guī)定值處的回轉(zhuǎn)半徑。
在離心式恒加速度試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行規(guī)定加速度試驗(yàn)時(shí)，工作臺(tái)轉(zhuǎn)速維持不變的能力，用規(guī)定時(shí)間內(nèi)轉(zhuǎn)速變化量的百分?jǐn)?shù)表示。
一般用GB 2421中5.3條規(guī)定的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)大氣條件：
A. 溫度：15~35℃；
B. 相對(duì)濕度：45%~75%；
c. 氣壓：86~106 kPa。
注：① 對(duì)大型設(shè)備或基于某中原因，設(shè)備不能在上述條件下進(jìn)行檢定時(shí)，應(yīng)把實(shí)際氣候條件記錄在檢定報(bào)告之內(nèi)。
② 當(dāng)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求嚴(yán)格控制環(huán)境條件時(shí)，應(yīng)在該標(biāo)準(zhǔn)中另行規(guī)定。
電源條件如下：
a 電源電壓及允許誤差：220±22V，80±38V；
b 電源頻率及允許誤差：50±0.5Hz。
4.3 用水條件
4.3.1 冷卻水
冷卻水一般應(yīng)滿足下列條件：
a 進(jìn)水溫度：5~30℃；
b 進(jìn)水壓力：0.1~0.3 MPa。
4.3.2 加熱用水
采用蒸餾水或去離子水，其電阻率不小于500.m
其他條件如下：
a 設(shè)備周圍無強(qiáng)烈沖擊、振動(dòng)、電磁場(chǎng)及腐蝕性氣體存在；
b 設(shè)備應(yīng)避免陽光直射或其他冷熱源影響。
5 檢定儀器
5.1 檢定系統(tǒng)的測(cè)量誤差應(yīng)不大于被測(cè)參數(shù)允許偏差的三分之一。
5.2 二次儀表與依次儀表應(yīng)一同校驗(yàn)，并具有法定計(jì)量機(jī)構(gòu)有效期內(nèi)的檢定證書。
6 檢定周期
6.1 正常使用的設(shè)備以及設(shè)備上附有的各種儀表，每一年或二年（機(jī)械設(shè)備每一年、氣候設(shè)備每二年）至少逐臺(tái)進(jìn)行一次檢定。
6.2 對(duì)設(shè)備的重要部位（指對(duì)試驗(yàn)條件的變化有直接影響的部位）維修或更換后，應(yīng)立即進(jìn)行檢定。
6.3 設(shè)備在安裝調(diào)試之后或啟封重新使用之前均應(yīng)進(jìn)行檢定。
7 檢定負(fù)載
檢定設(shè)備一般應(yīng)在負(fù)載條件下進(jìn)行，如在空載條件下檢定，應(yīng)在檢驗(yàn)報(bào)告中說明。設(shè)備在負(fù)載條件下檢定時(shí)，特定負(fù)載應(yīng)從相應(yīng)的試驗(yàn)樣品中選擇。氣候試驗(yàn)箱的模擬負(fù)載應(yīng)符合GB 11158的有關(guān)規(guī)定，機(jī)械設(shè)備的模擬負(fù)載應(yīng)在相應(yīng)的設(shè)備檢定方法中具體規(guī)定。
注：新設(shè)備檢定時(shí)，檢定負(fù)載的具體選擇也可由設(shè)備供需雙方協(xié)商解決。
在確定受檢設(shè)備基本滿足上述三條內(nèi)容條件下，才能對(duì)設(shè)備進(jìn)行檢定。
△Ta = Ta – TN ……………………………………………..（10）
式中：△Ta——溫度場(chǎng)調(diào)整值，℃;
Ta——溫度場(chǎng)中值，℃;
TN——溫度場(chǎng)標(biāo)稱值，℃。
如果△Ta>0，說明溫度場(chǎng)偏高，需要將溫度場(chǎng)向低調(diào)整△Ta；如果△Ta<0，說明溫度場(chǎng)偏低，需要將溫度場(chǎng)向高調(diào)整△Ta.
在檢定過程中，如果發(fā)現(xiàn)試驗(yàn)箱（室）工作間環(huán)境參數(shù)的實(shí)測(cè)值和設(shè)備指示儀表的指示值之間存在一個(gè)固定的差值，而且這個(gè)差值大于試驗(yàn)箱（室）的允許偏差時(shí)，應(yīng)對(duì)設(shè)備的指示儀表進(jìn)行修正，修正值如下方法計(jì)算（以溫度為代表）：
△Tc = Tm – Ti ……………………………………（11）
式中：△Tc——設(shè)備指示儀表修正值，℃；
Tm——設(shè)備溫度場(chǎng)中值，℃（每2 min測(cè)試一次）；
Ti——設(shè)備指示儀表30 min內(nèi)的溫度算術(shù)平均值，℃（每2 mni測(cè)試一次）。
其他環(huán)境參數(shù)的修正方法與溫度相同。
設(shè)備進(jìn)行周期檢定時(shí)，各種檢定項(xiàng)目均應(yīng)填寫檢定記錄表。檢定記錄表上應(yīng)填寫受檢單位、受檢設(shè)備的型號(hào)名稱、出廠編號(hào)、生產(chǎn)廠名、設(shè)備編號(hào)、檢定儀器的型號(hào)名稱、檢定環(huán)境條件、檢定參數(shù)標(biāo)稱值、設(shè)備儀表設(shè)定值及指示值，檢定原始數(shù)據(jù)、檢定結(jié)果、檢定日期和檢定校驗(yàn)人員簽名等內(nèi)容。
如果檢定儀器系統(tǒng)的測(cè)量誤差不大于受檢設(shè)備允許偏差的三分之一時(shí)，儀器本身誤差可以忽略，檢定結(jié)果中的偏差主要由受檢設(shè)備引起。檢定結(jié)果符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，則判為“合格”，否則為“不合格”
檢定結(jié)果判為“合格”時(shí)應(yīng)填發(fā)“檢定證書”，檢定證書應(yīng)使用統(tǒng)一紙張，統(tǒng)一編號(hào)，并分為“封面”及“內(nèi)容”兩部分。
檢定證書封面主要包括：
a. 證書號(hào)；
b. 受檢設(shè)備名稱、型號(hào)、生產(chǎn)廠、出廠編號(hào)、設(shè)備編號(hào)；
C. 明確的結(jié)論；
d. 檢定、校驗(yàn)、批準(zhǔn)人員簽字；
e. 檢定單位公章；
f. 檢定日期、有效日期。
10.2.2 檢定證書內(nèi)容
檢定證書內(nèi)容應(yīng)包括檢定標(biāo)稱值、設(shè)定值、設(shè)備儀表指示值、修正值、各測(cè)試點(diǎn)檢定數(shù)據(jù)、檢定結(jié)果和必要的檢定說明書等。
根據(jù)需要，檢定證書內(nèi)容還應(yīng)包括檢定儀表型號(hào)、名稱以及檢定標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)等。
檢定結(jié)果判為“不合各”時(shí)應(yīng)填寫“檢定結(jié)果通知書”。“檢定結(jié)果通知書”和“檢定證書”的封面格式、填寫要求大致相同。
檢定結(jié)果采用“合格”、“準(zhǔn)用”、“停用”三種標(biāo)志，并分別用“合格證”（綠色）、“準(zhǔn)用證”（黃色）、“停用證”（紅色），表示檢定“合格”、“準(zhǔn)用”和“停用”。檢定標(biāo)志應(yīng)貼在受檢設(shè)備顯著的位置上。
標(biāo)志方式 | ||
合格證 （填寫檢定證書） | 準(zhǔn)用書 （填寫檢定證書） | 停用證 （填寫檢定結(jié)果通知書） |
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|
當(dāng)受檢設(shè)備的個(gè)別參數(shù)或個(gè)別測(cè)試點(diǎn)，其檢定結(jié)果不能滿足技術(shù)指標(biāo)的要求時(shí)，按以下辦法處理：
允許適當(dāng)縮小受檢設(shè)備的工作空間，縮小后的工作空間應(yīng)滿足全部技術(shù)指標(biāo)要求，但在檢定證書中必須給出限制性說明。
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